发表日期:2006年03期 出版:《东莞理工学院学报 主管单位:东莞理工学院学报编辑部 作者:吴永深 页数:6页(依默认发送格式:PDF计算) PDF编号:PDF9DGLG2006030100 可选格式:Word、ePUB、PPT(课件用途) 下载次数:282 论文引用次数:4

基于瞬态微波光电导少子寿命测试仪和matlab编程研究了确定硅片的复合中心浓度和陷阱中心浓度的方法。利用瞬态微波光电导少子寿命测试仪,我们测量了硅片的少子寿命及微波光电导瞬态电压信号随时间的变化特性。根据已知的注入水平和相关复合参数,建立少子寿命与复合中心浓度的关系,我们得到硅片中的复合...

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