可靠性物理 (可靠性技术丛书)(Word+PDF+ePub+PPT)
作者:工业和信息化部电子第五研究所(作者,合著者)
出版:电子工业出版社; 第1版 (2015年10月1日)
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本书介绍了电子元器件可靠性物理的基本概念和失效物理模型,并系统地论述了11类电子元器件的失效机理及相关数理模型。全书共13章,前两章介绍了可靠性物理及其发展现状,并介绍了8类经典的失效物理模型及工程应用的意义;后11章分别论述了微电子器件、微波器件、光电子器件、高密度集成电路、真空电子器件、MEMS器件、电阻器、电容器、继电器与接插件、磁性元件、板级组件(PCBA)在电应力和环境应力作用下的典型失效机理及其数理模型。
本书适用于从事电子元器件研制、生产和元器件选用的工程技术人员、质量管理人员和可靠性工作者学习参考,也可供高校有关专业的教师和研究生阅读。