作者:任致程 单位:四川省科学技术情报研究所 出版:《家庭电子》1999年第07期 页数:1页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFJTDZ1999071130 DOC编号:DOCJTDZ1999071139 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 众所周知,半导体二极管PN结的性质与温度密切相关,如反向电流随着温度的升高而增大,扩散电容随着温度的升高而不断减小。这些性质,从原则上来说都是可以用来测试温度的。但是,由于这些性质与温度的关系是非线性的,直接用于测温都不够理想。人们通过长期的实践与总结,发现PN结的正向压降与温度的关系,在常温下呈较理想的线性特征,并可以用V_F=α+βT来描绘这种线性关系。式中V_F为PN结的正向压降,单位为mV;α为工

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