作者：侯玉华 单位：工业和信息化部电子第五研究所 出版：《电子产品可靠性与环境试验》1998年第04期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFDZKH1998040010 DOC编号：DOCDZKH1998040019 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 以Hall磁敏传感器为研究对象，研究探讨了通常确定传感器失效分布类型和分布参数的方法，并确定出Hall磁敏元件的失效率（寿命）分布类型与分布参数数值。其方法和结论可作为今后开展可靠性工作特别是数据处理和确定产品失效分布类型和分布参数时参考。

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