作者:俞朴,张守愚,毕浩然 单位:中国电子科技集团公司第48研究所 出版:《微细加工技术》1999年第04期 页数:6页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFWXJS1999040110 DOC编号:DOCWXJS1999040119 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 介绍一种用于半导体工业领域测量膜厚和表面轮廓的传感器,其分辨率达1nm 。经计量部门测试,测量范围为±180μm 时,线性度达0-4 % FS;量程分为四档:量程为100nm 时,重复误差为2 % 。量程为500nm 或1000nm 时,重复误差为1% 。量程为5000nm 以上时,重复误差为零。传感器触针对工件的压力在0 ~0-5mN 间可调。

    提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。