作者：陈信琦,季安 单位：沈阳仪表科学研究院有限公司 出版：《仪表技术与传感器》1999年第08期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFYBJS908.0000 DOC编号：DOCYBJS908.0009 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 根据多年研制硅压阻传感器的经验，定性地归纳和探讨硅压阻传感器稳定性的主要影响因素，并提出相应的预防和解决措施。

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