作者:察豪,杨智,冷东方 单位:南京电子技术研究所 出版:《现代雷达》2000年第01期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFXDLD2000010100 DOC编号:DOCXDLD2000010109 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 提出了一种采用超大规模集成电路的边界扫描测试技术来设计内建自测试 (BIT)电路的方法。此方法利用一片单片机的 I/ O口线以及超大规模集成电路所具有的边界扫描测试结构来实现对 VL SI集成电路芯片的故障诊断。

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