作者:韩鸿庆 单位:北京自动测试技术研究所 出版:《电子测试》2000年第07期 页数:1页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFWDZC2000070730 DOC编号:DOCWDZC2000070739 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 有不错的扩展能力,在各方面表现上都有一定水平,但是安装上有一点繁琐,接口不是最先进的智能型TWAIN接口。

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