《GaAs集成电路芯片在片直接故障检测分析》PDF+DOC
作者:田小建,张大明,孙伟,衣茂斌
单位:重庆市光学机械研究所
出版:《激光杂志》2000年第02期
页数:2页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFJGZZ2000020100
DOC编号:DOCJGZZ2000020109
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介绍了一种实用的电光采样测试系统 ,其稳定的光学系统结构可保持精度几年不变 ,单位带宽电压灵敏度为 2 5 2mV/Hz。改进了电子移相扫描法 ,利用倍频移相扫描法对GaAs动态分频器芯片故障进行了在片检测分析。
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