作者：苏振华,张立雄 单位：工业和信息化部电子第五研究所 出版：《电子产品可靠性与环境试验》2000年第04期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFDZKH2000040040 DOC编号：DOCDZKH2000040049 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 以磁控管现场使用数据和失效模式为基础，根据真空电子器件失效率或平均寿命等可靠性指标的考核方法，对新版（ＧＪＢ２９９Ｂ）电子设备可靠性预计手册中的失效率模型与旧版（ＧＪＢ２９９Ａ）进行了验证对比。结果表明，新版比旧版更接近实际，而且其预计精度也有明显提高，新版所建立的失效率数学模型可以满足工程的实际要求。

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