作者:张学渊 单位:工业和信息化部电子第五研究所 出版:《电子产品可靠性与环境试验》2000年第01期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZKH2000010040 DOC编号:DOCDZKH2000010049 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 本文用编码故障树法对某雷达可靠性试验进行分析,直观明了,实例分析表明该技术简便易行,有一定的工程意义。

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