作者：惠春,陈寿田,徐爱兰,徐毓龙 单位：国家仪表功能材料工程技术研究中心;重庆仪表材料研究所;中国仪器仪表学会仪表材料学会 出版：《功能材料》2000年第02期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFGNCL2000020240 DOC编号：DOCGNCL2000020249 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 用XRD、SEM手段分析了共沉淀工艺和水热合成技术制备的半导体SnO2 纳米晶态粉体及其厚膜陶瓷材料的显微结构 ，结果表明两种粉体的晶粒尺寸大约 7nm ，但两种粉体的XRD照片差异较大。用水热合成技术制备的粉体其颗粒是由纳米晶粒团聚而成 ，颗粒尺寸大约 30 0nm左右 ，具有较大的表面活性 ，而用共沉淀工艺制备的粉体 ，颗粒分布较宽 ，活性差。两种粉体的显微结构对厚膜陶瓷材料显微结构的形成和SnO2厚膜气敏传感器选择性、灵敏度和稳定性有着显著的影响。

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