《研究材料缺陷探测极限用的红外成像装置的特性》PDF+DOC
作者:鸭井新生,岡本芳三,江涛
单位:中国科学院上海技术物理研究所
出版:《红外》2001年第04期
页数:9页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFHWAI2001040040
DOC编号:DOCHWAI2001040049
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红外成像装置作为以遥感方式测定物体表面辐射温度分布的测定器,在工业界得到了广泛应用。利用这种装置测定缺陷存在的方法—热成像法目前颇受关注。这种测定方法是一种向物体照射热,将物体表面所产生的异常温度和辐射能量分布显示在红外成像装置的显示器上,使热图像形式可视化的方法。目前,利用红外成像装置测定物体表面和内部缺陷的探测极限、弄清楚JIS、ASTM等标准中所规定的噪声等效温差(NETD)和最小可分辨温差(MRTD)之间关系方面的研究还非常少。本项研究是通过测定所使用的红外成像装置的噪声等效探测温差和最小可分辨温差等特性,阐述与物体表面缺陷的探测极限的关系。
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