作者:陆锦军 单位:中国仪器仪表学会;上海工业自动化仪表研究院 出版:《自动化仪表》2001年第04期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFZDYB2001040140 DOC编号:DOCZDYB2001040149 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 介绍采用光电传感器代替昂贵的 β射线测厚仪 ,实现涂层厚度控制 ;采用数字量输出的光尺传感器实现布边偏移量控制 ;采用红外光电传感器实现膏布长度计量控制。控制系统以 80 31单片机为主机 ,通过拨盘设定涂层厚度、膏布长度 ,实现闭环控制。

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