《复杂设备BIT系统几种典型虚警的数学分析》PDF+DOC
作者:徐永成,温熙森,易晓山
单位:中国航天科工防御技术研究院;中国宇航学会;中国系统工程学会
出版:《系统工程与电子技术》2001年第12期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFXTYD2001120030
DOC编号:DOCXTYD2001120039
下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《采用神经网络技术降低机电设备BIT虚警》PDF+DOC1999年第04期 徐永成,陶利民,温熙森,易晓山
《机内测试系统虚警问题的数学模型分析》PDF+DOC2003年第05期 杨光,邱静,温熙森,刘冠军
《某型起落架转弯控制器余度设计及机内测试》PDF+DOC2013年第03期 吴正辉,金丰,银恺
《基于降低复杂矿冶装备BIT虚警的PHM技术》PDF+DOC2013年第11期 伍建军,吴事浪,游雄雄
《自适应门限检测概率的计算》PDF+DOC1985年第02期 J.S.伯德,陈振邦
《雷达虚警及检测性能的研究》PDF+DOC2006年第03期 丁奕,沈春林
《空调系统传感器故障诊断概述》PDF+DOC 叶文君,李建伟,路宇
《基于加权D-S证据理论信息融合的故障诊断方法及其应用》PDF+DOC2011年第03期 漆随平,王东明,刘涛,初为先,于宏波
《第二十四届测试与故障诊断技术研讨会征文通知》PDF+DOC2015年第02期
《第二十三届测试与故障诊断技术研讨会征文通知》PDF+DOC2014年第01期
机内测试 (Built-inTest,BIT)技术是改善系统或设备测试性和诊断能力的重要途径 ,它能够提高设备内部检测和隔离故障的能力、简化设备维修、降低全寿命周期费用 ,但是较高的虚警率一直是阻碍BIT广泛应用的一个重要原因。在对复杂设备BIT系统建立数学模型的基础上 ,分析了BIT系统几种常见虚警的机理模式 ,并以此提出了相应的技术解决路线 ,这对BIT系统的故障诊断设计具有参考价值
提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。