《一种智能型密封性能测试装置》PDF+DOC
作者:郭瑞平,王晓光
单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所
出版:《传感器与微系统》2001年第03期
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFCGQJ2001030100
DOC编号:DOCCGQJ2001030109
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针对当前密封性能测试技术中存在的问题 ,提出了一种智能型密封性能测试装置的设计方案。实践结果表明 ,该装置设计合理 ,性能良好 ,具有较高的实用价值
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