作者：李华,薛建国 单位：中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版：《传感器与微系统》2001年第04期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFCGQJ2001040030 DOC编号：DOCCGQJ2001040039 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 针对面阵CCD不均匀性特性 ，对降低CCD不均匀性的不同方法进行了探讨 ，结合某参数测试系统的研制 ，对使用基于参考光源的多点因子加权法的校正进行了讨论 ，为使用面阵CCD进行高精度测量提供实用的降低噪声措施和校正步骤。

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