作者：陈科全,唐鹤,郑炯卫,杨磊,甄少伟,张波 单位：中国电子科技集团公司第五十八研究所 出版：《电子与封装》2018年第08期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFDYFZ2018080040 DOC编号：DOCDYFZ2018080049 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 介绍的单斜ADC(Analog-to-Digital Converter，ADC)应用于三维成像激光焦平面读出电路，将读出电路检测到的电压模拟信号转换为数字信号，便于后续的信号处理。根据焦平面阵列规格、对信号精度和速度的需求，选择采用单斜结构ADC，其中斜坡发生器和计数器两个模块可以所有列共用，每列只需一个比较器和寄存器。斜坡发生器采用分段电容阵列结构，大大减小了芯片面积。由于ADC精度较高，也对比较器进行了失调校准，同时提出了一种新结构，使得比较器输入范围扩大至轨到轨。提出的ADC基于0.18μm CMOS工艺进行设计，输入电压量化范围为1.1 V，量化精度为12位，转换速度为5 kHz。

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