作者:张宇 单位:中国科学院数学与系统科学研究院 出版:《》 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFSSJS2018070390 DOC编号:DOCSSJS2018070399 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 随着无损检测技术的发展,检测装置的技术含量和复杂程度日益提高,传感器阵列得到越来越广泛的应用,随之而来的虚警问题成为阻碍无损检测技术发展的一个重要问题.一方面,过高的虚警率(false alarm rate,FAR)会使人们对传感器阵列检测系统产生的数据结果失去信任,这就削弱了检测的意义.另一方面,只注重虚警率的影响,则可能造成漏检情况.因此,进行基于降虚警技术的传感器阵列优化研究迫在眉睫.旨在通过实验、仿真传感阵列布置问题的研究,达成优化虚警率的目的,并最终证明降虚警技术对于传感器阵列优化具有指导意义。

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