作者:杨德坤 单位:北京自动测试技术研究所 出版:《电子测试》2018年第18期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFWDZC2018180660 DOC编号:DOCWDZC2018180669 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 本文主要讨论了单片机在传感器设计中的应用,并对此提出了相关的建议。

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