作者:杨效民 单位:工业和信息化部电子第五研究所 出版:《电子产品可靠性与环境试验》2019年第05期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZKH2019050070 DOC编号:DOCDZKH2019050079 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《X波段T/R组件可靠性增长方法研究》PDF+DOC2010年第06期 王光池,戴跃飞,陆培永,郑林华
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