作者：张晓阳,刘金国,孔德柱,李广泽,陈佳豫,彭畅,余达 单位：中国航空工业洛阳电光设备研究所 出版：《电光与控制》2019年第07期 页数：5页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFDGKQ2019070180 DOC编号：DOCDGKQ2019070189 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 全局快门在对地观测的超光谱成像、测绘及星敏应用中具有优势，但应用效果也依赖于高信噪比。针对CMOS成像特点，设计了可进行拉灌电流的低压基准源电路，基于低热光学变形的焦面电子学，提出上电初始态不定的多通道串行数据接收方法；针对全局快门所特有的寄生光灵敏度影响，采用分行统计中间行为基准的多点拟合校正方法；按照EMVA1288标准，将前照式CMOS成像系统与制冷背照式EMCCD进行了测试，校正前后单幅图像的标准差分别为3.37和0.42，最大信噪比为123.37，EMCCD的最大信噪比为359.43。结果表明，该校正方法可有效减弱全局快门的固定图形噪声，面阵CMOS在全局快门方式下的信噪比与EMCCD相比还有较大差距。

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