作者：欧爱辉,张昌卫,胡旻 单位：中国计算机自动测量与控制技术协会 出版：《计算机测量与控制》2019年第02期 页数：5页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFJZCK2019020250 DOC编号：DOCJZCK2019020259 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 基于雷达等电子产品测试性要求的不断提高，对产品进行测试性设计迭代并进行测试性验证，成为对电子产品的普遍要求；由于初始设计有缺陷、覆盖故障模式不全等引起测试性设计不能满足要求，开展闭环测试、脉冲检测、隔离策略优化等测试性改进，最终选择软、硬件改进相平衡的方案，通过回归试验，获得满足指标要求的检测率和隔离率结果，优化方法促进了产品的测试性设计改进和增长。

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