作者:刘丽辉,谢瑞芳,陈棣湘,田武刚,周卫红,翁飞兵 单位:中国测试技术研究院 出版:《中国测试》2016年第01期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFSYCS2016010180 DOC编号:DOCSYCS2016010189 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 针对飞机发动机涡轮叶片缺陷检测难度大、效率低、严重制约航空装备保障的问题,设计一套基于ARM和FPGA的双核电磁无损检测系统。该系统采用FPGA结合A/D采样芯片完成64通道数据采集,并以基于android系统的ARM实现对各功能单元的控制。FPGA控制A/D采样芯片完成传感器阵列的高速数据采集并对其进行预处理,经UART接口送给ARM后,再由ARM完成信号特征提取和缺陷检测,并实现三维实时成像。测试结果表明:该系统对微裂纹的长度检测误差<0.2 mm,成像速率达10帧/s,满足工业应用需求。

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