《光栅精密位移测量技术发展综述》PDF+DOC
作者:高旭,李舒航,马庆林,陈伟
单位:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
出版:《中国光学》2019年第04期
页数:12页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFZGGA2019040040
DOC编号:DOCZGGA2019040049
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精密测量是精密机械加工的基础,是制造行业中影响制造精度的决定性因素之一,在当代精密机械制造领域应用广泛。基于光栅的精密位移测量系统以其对环境要求小,测量分辨率高等优点,在精密位移测量领域占据重要位置。基于光栅的精密位移测量系统包括光学测量系统、信号接收、电子学细分及整体装调几部分。本文主要针对光学测量光路部分进行综述介绍。首先介绍了经典光栅干涉位移测量原理;其次,综述了基于光栅的精密位移测量系统的关键技术现状;再次,对比分析了几种最具有代表性的测量技术,总结其优缺点;最后,对基于光栅的精密位移测量技术进行展望,揭示其高精度、高分辨力、高鲁棒性、微型化、多维化、多技术融合的发展趋势。
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