《压阻式小量程SOI压力敏感结构仿真分析》PDF+DOC
作者:揣荣岩,吕品,杨宇新,张冰
单位:沈阳仪表科学研究院有限公司
出版:《仪表技术与传感器》2019年第02期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFYBJS2019020040
DOC编号:DOCYBJS2019020049
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针对小量程MEMS压力传感器存在提高灵敏度与降低非线性相互制约的问题,利用板壳理论对小量程压力敏感结构进行了仿真分析,给出了兼顾这两个相互制约技术指标的设计方法。基于SOI技术设计了小量程压力敏感结构,通过感压膜片断裂前与衬底适当接触可使其过载能力得到有效提高。仿真结果表明,所设计的量程为5 kPa的压力敏感芯片,其过载压力达到1 MPa,1 mA恒流源供电条件下,满量程输出为43.2 mV。
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