作者:佐磊,孙洪凯,何怡刚,尹柏强,胡小敏 单位:中国电子学会 出版:《电子测量与仪器学报》2019年第06期 页数:7页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZIY2019060100 DOC编号:DOCDZIY2019060109 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 为了解决有限试验次数情况下微机电系统(MEMS)传感器的无失效数据可靠性分析问题,针对寿命服从指数分布的MEMS传感器,通过研究最优置信限法和最小二乘估计这两种方法来获得适用于MEMS传感器无失效数据可靠性分析的置信度α、c(c>1为常数)。分析试验组数对于预测分析结果的影响,通过对两种方法进行不同分组试验,获得MEMS传感器的最佳分组数。针对某数字型双轴倾角MEMS传感器的实际算例表明置信度α=0. 4、c取值范围3~6,分组为12/13组时,得到最佳预测结果,证明了所提出方法的有效性。

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