作者:文平,郝小鹏,孙建平,原遵东,丁雷,常稼强 单位:中国计量测试学会 出版:《计量学报》2019年第04期 页数:8页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFJLXB2019040090 DOC编号:DOCJLXB2019040099 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 介绍了微型镓基共晶固定点的灌注工艺和准绝热相变特性测量系统;结合空腔黑体和非近位安装的温度传感器,研究了Ga-Sn和Ga-Zn共晶固定点的相变温坪重复性和Ga固定点的相变温坪长期稳定性;通过特定的热环境下镓及2个镓基共晶固定点三者熔化过程中温度传感器测量到的相变温坪值,对嵌入空腔黑体底部的温度传感器进行校准,其校准结果与实验室常规校准方法得到的结果差异均小于2 m K。实验结果表明:在热环境保持不变的条件下,随着相变时间的增加,相变温坪值就越靠近理论上相变物质的熔化温度,即固定点与温度传感器测孔之间的异位温差越小;对于Ga-Sn和Ga-Zn共晶固定点,温度传感器测量到的相变温坪值与加热功率呈线性关系,零功率下的单点校准温度分别为20. 352℃和25. 187℃。

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