《SPC技术在航天压力传感器质量管理中的应用》PDF+DOC
作者:范迎新
单位:中国电子学会
出版:《电子技术与软件工程》2019年第19期
页数:2页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFDZRU2019190560
DOC编号:DOCDZRU2019190569
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本文以航天薄膜压力传感器为例,详细介绍了SPC如何进行量化控制,并采用单值-移动极差控制图对薄膜压力传感器关键工艺进行统计分析,实践证明该方法对提高传感器生产质量有明显促进作用。
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