作者:刘力,王湘江 单位:黑龙江省机械科学研究院;黑龙江省机械工程学会 出版:《机械工程师》2019年第11期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFJXGU2019110040 DOC编号:DOCJXGU2019110049 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 为了研究核退役装备在核辐射环境下作业时图像监控设备的工作状态等数据,对用在核退役作业现场的某国产CMOS图像传感器进行γ辐照实验。采集得到辐照时的γ射线对CMOS图像传感器所输出的暗图像造成的干扰数据,并研究γ射线对CMOS图像传感器的性能参数影响。实验结果表明:辐射射线的总剂量效应使得传感器中暗电流增大,传感器输出的图像里脉冲颗粒噪声与平均灰度值会随着辐照剂量的变化而发生变化。

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