《CMOS图像传感器的γ射线电离辐照实验研究》PDF+DOC
作者:刘力,王湘江
单位:黑龙江省机械科学研究院;黑龙江省机械工程学会
出版:《机械工程师》2019年第11期
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFJXGU2019110040
DOC编号:DOCJXGU2019110049
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《CMOS图像传感器辐射损伤研究》PDF+DOC2017年第03期 邹旸,黄景昊
《用于低限度环境的CMOS图像传感器》PDF+DOC2000年第09期 Dan Croft,顾聚兴
《38万个像素的CCD图像传感器》PDF+DOC1986年第01期 徐振华
《固体图像传感器稳定发展》PDF+DOC1989年第03期 R.P.Khosla,冯伯儒
《CMOS数字成像技术在电力系统图像监控中的应用》PDF+DOC2002年第01期 李琳,孙习红,刘琼
《基于FPGA的嵌入式监控系统设计》PDF+DOC2012年第07期 孙建中
《水文设施防盗系统的设计》PDF+DOC 殷娜,李军
《CMOS图像传感器技术特点的分析与研究》PDF+DOC2007年第29期 宋永东
《CYIHDSC9000AA:900万像素APS CMOS图像传感器》PDF+DOC2006年第01期
《声音传感器辐照实验研究》PDF+DOC2014年第02期 邓骞
为了研究核退役装备在核辐射环境下作业时图像监控设备的工作状态等数据,对用在核退役作业现场的某国产CMOS图像传感器进行γ辐照实验。采集得到辐照时的γ射线对CMOS图像传感器所输出的暗图像造成的干扰数据,并研究γ射线对CMOS图像传感器的性能参数影响。实验结果表明:辐射射线的总剂量效应使得传感器中暗电流增大,传感器输出的图像里脉冲颗粒噪声与平均灰度值会随着辐照剂量的变化而发生变化。
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