作者：徐江涛,金伟民,聂凯明,高志远 单位：南开大学 出版：《南开大学学报(自然科学版)》2018年第06期 页数：8页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFNKDZ2018060060 DOC编号：DOCNKDZ2018060069 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 根据TDI-CMOS图像传感器的工作原理和曝光时序，建立了像移作用下传感器的降质模型，并在此基础上，推导了传感器沿轨和跨轨方向线性非正常像移的MTF模型，着重分析了累加级数、行选时间、像素曝光时间和速度同步误差对线性非正常像移MTF的影响.为更好地分析不同像移形式对成像质量的影响，建立了TDI-CMOS图像传感器动态链路仿真模型，对传感器沿轨和跨轨方向存在线性非正常像移情况进行了仿真，并利用刃边法计算降质图像的MTF值.仿真结果表明，沿轨和跨轨方向线性非正常像移MTF不仅与速度同步误差有关系，还与累加级数、行选时间和像素曝光时间有关系.提出的传感器动态链路仿真模型能够用于仿真不同形式的像移对成像质量的影响。

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