《新型无漏电纳米线桥接生长技术解决传感器材料稳定性问题》PDF+DOC
作者:
单位:北京信息科技大学
出版:《传感器世界》2019年第05期
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PDF编号:PDFCGSJ2019050200
DOC编号:DOCCGSJ2019050209
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Nano Letters发表了大连理工大学黄辉教授团队的一项研究成果——无漏电流“纳米线桥接生长技术”。这项技术解决了纳米线器件的排列组装、电极接触及材料稳定性问题,制备出高可靠性、低功耗及高灵敏度的GaN纳米线气体传感器,该传感器可推广至生物检测以及应力应变检测等。黄辉团队首次研究了纳米线桥接生长中的寄生沉积效应,发明了一种结合
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