《新思科技扩展提出适用于FinFET工艺的硅验证集成解决方案》PDF+DOC
作者:王恒宇
单位:工业和信息化部无线通信专业情报网
出版:《计算机与网络》2020年第09期
页数:1页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFJSYW2020090630
DOC编号:DOCJSYW2020090639
下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《手机传感器世界向“第六感”进化》PDF+DOC2014年第11期
《我要把你看清楚——认识电脑中的分辨率》PDF+DOC 刘凤阁
《USB外设浮出水面》PDF+DOC 张迎新
《“分辨率”之完全诠释》PDF+DOC2001年第06期 快人
《色彩管理问答(五)》PDF+DOC 张桂兰
《详说计算机的各种分辨率》PDF+DOC2002年第02期 呼运平
《极客堂》PDF+DOC2016年第03期
《暑期产品采购推荐》PDF+DOC
《将光学手势识别功能集成进轻薄LCD》PDF+DOC2010年第03期 Richard Comerford
《数码摄影师的色彩管理讲座(5) 色彩管理系统(CMS)和色彩配制文件(ICC Profile)》PDF+DOC2008年第12期 吴启海
新思科技近日宣布,该公司正在扩展MIPI相机和显示器IP产品组合,推出适用于多种FinFET工艺的DesignWare MIPIC-PHY/D-PHYIP。硅验证C-PHY/D-PHYIP符合MIPI C-PHYv1.2和D-PHYv2.1规范,带来针对高分辨率成像和显示器SoC的低风险解决方案。此外,C-PHY/D-PHY可满足汽车ADAS和信息娱乐应用严格的功能安全性和可靠性要求。DesignWare MIPIC-PHY/D-PHY IP与DesignWare MIPI
提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。