作者:吴国城,杨方,吴昌义,杨拓,潘飞蹊 单位:东南大学 出版:《电子器件》2020年第03期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZQJ2020030140 DOC编号:DOCDZQJ2020030149 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 通过对传统磁调制时间差型直流漏电流传感器的分析,提出了一种基于单片机(MCU,Microprogrammed Control Unit)控制检测的性能改善方案。该方案采用单片机控制全桥结构以驱动磁回路,单片机检测磁调制产生的时间差值信号,并实现电路的零磁通反馈控制。电路工作在单电源下,可以适应较宽的电源电压变化。实验电路获得了较高的测试精度。

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