作者:张亚男,牛春晖,赵爽,吕勇 单位:西南技术物理研究所 出版:《激光技术》2020年第04期 页数:6页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFJGJS2020040040 DOC编号:DOCJGJS2020040049 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《632nm激光对CCD和CMOS的干扰实验及机理分析》PDF+DOC2016年第09期 高润,牛春晖,李晓英 《连续激光辐照CMOS相机的像素翻转效应及机理》PDF+DOC2016年第06期 盛良,张震,张检民,左浩毅 《超连续谱光源辐照可见光CMOS图像传感器的实验研究》PDF+DOC2017年第01期 王景楠,聂劲松 《脉冲激光辐照CMOS相机的图像间断现象及机理》PDF+DOC2019年第03期 周旋风,陈前荣,王彦斌,朱荣臻,李华,任广森 《CCD中的激光光斑阴影现象及机理》PDF+DOC2013年第05期 张震,周孟莲,张检民,韦成华,冯国斌,叶锡生 《激光对CCD及CMOS图像传感器的损伤阈值研究》PDF+DOC2008年第06期 林均仰,舒嵘,黄庚华,方抗美,闫志新 《632.8nm连续激光辐照可见光CMOS相机实验研究》PDF+DOC2015年第03期 盛良,张震,张检民,徐作冬 《1.06μm激光对CCD、CMOS相机饱和干扰效果对比研究》PDF+DOC2014年第01期 邵铭,张乐,张雷雷,柴国庆,胡琥香 《高重频脉冲激光对CMOS相机饱和干扰效果研究》PDF+DOC2013年第06期 邵铭,张雷雷,赵威,张乐 《TEA-CO_2激光辐照HgCdTe图像传感器的实验研究》PDF+DOC2013年第02期 雷鹏,李化,卞进田,聂劲松
  • 为了研究近红外激光对图像传感器的干扰机理,利用波长为1064nm的连续激光辐照黑白电荷耦合器件相机,观察激光对黑白相机的干扰现象,将实验中采集到的数字图像进行处理,提取了黑白相机在不同激光功率下的干扰程度曲线,并进行了分析。结果表明,图像传感器相机干扰包括干扰光斑和串音线,激光功率越高,干扰光斑半径越大,串音线缓慢变宽,相应干扰区域中饱和像元数越多,干扰程度越严重;对于1064nm激光对黑白相机的干扰过程,饱和像元数量正比于激光功率基本呈线性增长;对实验现象中出现的规律性点阵光斑和旁支串音线的新现象解释为与光学镜头的傅里叶频谱性质有关;利用相关公式推导得出一般干扰过程的拟合曲线,并根据图像传感器基本像元结构的电容势阱特点和载流子溢出方式来对干扰过程进行仿真模拟,仿真结果与实验数据基本相符。该结果有助于近红外激光对CCD的干扰研究。

    提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。