《245 GHz接收机芯片片外测试与实验》PDF+DOC
作者:毛燕飞,鄂世举,SCHMALZ Klaus,SCHEYTT J Christoph,颜素莉
单位:中国工程物理研究院电子工程研究所
出版:《太赫兹科学与电子信息学报》2020年第03期
页数:6页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFXXYD2020030030
DOC编号:DOCXXYD2020030039
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为了实现太赫兹气体频谱分析传感器,对245 GHz次谐波接收机芯片的片外测试展开研究。建立了245GHz次谐波接收机片外测试系统以及基于245GHz接收机芯片及发射机芯片的气体频谱分析传感器片外展示测试系统,对245 GHz次谐波接收机芯片转换增益和带宽进行测试。片外测试系统得到15 dB转换增益和15 GHz带宽;片外展示测试系统得到9 dB转换增益和16 GHz带宽。片外测试系统和片外展示测试系统结果基本吻合。在片外展示测试系统中加入气腔,即构成气体频谱分析传感器。与现有同类型传感器相比,本文的次谐波接收机具有高增益、高带宽、集成本地振荡信号、低功耗等优势,非常适用于消费电子领域小体积的智能气体频谱分析传感器。
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