《基于故障树分析的薄膜压力传感器可靠性》PDF+DOC
作者:范迎新,何峰,蓝镇立
单位:中国电子学会
出版:《电子技术与软件工程》2020年第07期
页数:2页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFDZRU2020070290
DOC编号:DOCDZRU2020070299
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本文简要介绍了故障树分析法的基本概念和分析步骤,并将其应用于薄膜压力传感器的可靠性研究。通过统计配套产品失效案例,对传感器芯体、信号处理电路、产品结构等因素导致传感器故障原因进行分析,得出压力传感器失效故障树,为薄膜压力传感器的可靠性研究提供了科学依据。
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