作者：类智方,孙平,代晴 单位：中国光学学会 出版：《光学学报》2020年第03期 页数：9页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFGXXB2020030170 DOC编号：DOCGXXB2020030179 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 分析了Horn-Schunck全局光流算法和Lucas-Kanade局域光流算法在条纹位移测量中的分辨力和测量范围，结果表明：当Horn-Schunck算法的相对误差和Lucas-Kanade算法的相对误差小于2%时，两种算法的相位分辨力都能够达到10~(-13)π，对应像面上的位移分辨力为1.6&#215；10~(-12) pixel，两种算法在理论上与四步相移法的分辨力相当；在有噪声的情况下，两种算法的分辨力都达到了0.01π，对应像面上的位移分辨力为0.16 pixel；在相对误差小于2%、方均根误差小于3%时，Horn-Schunck算法和Lucas-Kanade算法的测量范围分别为0～17π/100和0～52π/100，分别约为0～π/6和0～π/2，并且测量范围受噪声的影响很小。

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