作者:范皓然 单位:上海贝岭股份有限公司 出版:《集成电路应用》2019年第12期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFJCDL2019120110 DOC编号:DOCJCDL2019120119 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 分析表明,高校实验室安全事故频繁发生,造成了极大的人员伤亡和严重的财产损失。针对实验室存在的安全隐患,提出一种基于STM32的实验室智能安全综合控制系统,可以有效降低实验室发生安全事故的风险,具有很大的实用价值。

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