作者：马凯,乔琼,章斯宇 单位：中国电科技集团公司第三研究所 出版：《电声技术》2019年第08期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFDSJS2019080120 DOC编号：DOCDSJS2019080129 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 借助CCD图像传感器拍摄不同频率声激励下膜片振动状态，通过图像处理的方法对获取的图片进行频率—位移以及频率—振动幅度面积的特征提取和分析。选取34 mm大振膜金属膜片作为介质目标物，实验环境为超静音室暗室环境。采用帧差法将运动目标检测出来并利用二维空间的欧氏距离计算出无声静止时刻和有声激励时移动的位移差，从而得出位移和频率的关系。实验表明，当使用同一声压级不同频率的纯音信号激励膜片时，像素位移差随着频率呈现一定规律。当频率在1 800 Hz左右时位移达到最大，可推测此振膜谐振频率为1 800 Hz，这与声学测量下膜片的谐振频率是一致的。为测量物体谐振频率提供新的方法。

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