作者:焦静静,石云波,赵永祺,赵思晗,张婕,米振国,康强 单位:中国电子科技集团公司第二十六研究所 出版:《压电与声光》2020年第01期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYDSG2020010130 DOC编号:DOCYDSG2020010139 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 为提高微机电系统(MEMS)加速度计的可靠性,减小因为引线键合断裂造成的传感器失效,该文设计了一种基于低温共烧陶瓷的无引线键合封装。该封装采用阳极键合技术将低温共烧陶瓷基板与芯片连接,同时将电路转接板同步集成。结果表明,该封装结构可减小传感器的封装尺寸,有效提高了MEMS加速度计的可靠性。

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