《封装胶残留致MEMS振动传感器失效分析》PDF+DOC
作者:傅成城,徐兴烨,高成,黄姣英
单位:北京机电研究所;中国机械工程学会热处理学会;中国热处理行业协会
出版:《金属热处理》2019年第S1期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFJSRC2019S11520
DOC编号:DOCJSRC2019S11529
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随着电子产品的微型化和智能化,MEMS(Micro-electromechanical Systems,微机电系统)得到了广泛使用,其中具有代表性的就是MEMS振动传感器,其可靠性问题越来越被重视。本文针对MEMS振动传感器封装胶残留致失效的问题,从传感器的结构和原理开展分析。其常见的失效原因包括硅体倾斜、弹性梁损伤、阻尼异常、多余物残留等。MEMS传感器的封装胶残留就是一种常见的多余物残留。封装胶残留导致的MEMS振动传感器失效,主要有两种典型失效机理,一种是芯片与保护盖之间的封装胶导残留致输出限幅,另一种是敏感芯体电阻两电极之间封装胶残留导致输出偏移。接下来针对某失效MEMS振动传感器开展了失效分析,确认了胶污染残留物在水汽作用下短接了芯片电阻两极,导致零点输出异常的失效原因,分析了失效机理,并提出了改进意见:在生产中注意封装加工环境水汽控制,在生产后增加芯片筛选,对于之前已生产产品进行复测,重点关注零点输出异常。
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