作者: 单位:华中科技大学 出版:《国际学术动态》2012年第01期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGJXS2012010230 DOC编号:DOCGJXS2012010239 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 由IEEE I&MSociety主办、浙江大学控制科学与工程学系承办的2011年电气电子工程师学会国际仪表与测量技术会议(IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference 2011)于2011年5月12日在浙江杭州圆满结束。

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