作者:王祖军,薛院院,姚志斌,马武英,何宝平,刘敏波,盛江坤 单位:中国电子科技集团第四十四研究所 出版:《半导体光电》2017年第04期 页数:6页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFBDTG2017040140 DOC编号:DOCBDTG2017040149 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 提出了光电图像传感器辐照效应参数测试需要解决的问题,简述了光电图像传感器参数测试国际标准(EMVA1288)的原理和要求,建立了基于EMVA1288国际标准的光电图像传感器辐照效应测试系统,并进行了辐照试验验证。验证试验表明:该系统能对光电图像传感器辐照前后的时域、空域和光谱类参数进行测试,较好地解决了光电图像传感器辐照效应测试难题,如测试效率、数据可比对、兼容和拓展性等,具有较好的推广应用前景。

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