《一种微构件拉伸测试系统及测试结构设计》PDF+DOC
作者:冯永平,罗华云
单位:西安交通大学
出版:《应用力学学报》2017年第05期
页数:7页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFYYLX2017050250
DOC编号:DOCYYLX2017050259
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微机电系统(Micro-Electro-Mechanical Systems,MEMS)的力学性能是研究MEMS可靠性的一个重要部分。目前,微结构片外拉伸测试的难点在于如何在实现较高精度的夹持和测试的同时能够较好地控制成本,这是本文着重解决的问题。首先,针对单晶硅各向异性湿法体硅工艺的特点,设计了一种新颖而经济的试样结构,利用力学分析确定其结构尺寸,通过有限元分析验证其合理性;其次,设计了一种简单经济的微结构片外拉伸测试系统;最后,加工出样本并进行准静载拉伸强度测试。结果表明:微梁尺寸增大,拉伸强度降低,同时验证了本装置在微结构拉伸准静载测试中的适用性。
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