《利用背景和分析线对以单标准试样制作工作曲线的公式推导》PDF+DOC
作者:丁中甲
单位:上海材料研究所
出版:《》
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFLHJH1982010280
DOC编号:DOCLHJH1982010289
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公式推导从光谱定量分析的基本公式I=aC~b出发(其中C为杂质元素的含量;Ⅰ为杂质元素的谱线强度;b为发光云中该谱线的自吸,在微量元素的浓度下可视b=1:a是决定于试样性质和谱线性质的比例系数),如果用Ⅰ_o表示比较线的强度,用Ⅰ_(?)表示杂质线的强度,那么,分析线对的谱线强度的比值可用下列形式表示:I_n/I_o=aC~b/I_o=a′C~b。其中a′=a/I_o由于采用均称的分析线对,故a′与分析条件下偶然波动的关系极小,在确定的工作条件下,
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