作者：王进学 单位：上海材料研究所 出版：《》 页数：5页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFLHJH1964060030 DOC编号：DOCLHJH1964060039 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 本文叙进紊屯硅中Fe、Al、Ca、Mg、Cu、Ti、Mo、B等杂质的测定方法制做过程及操作工艺，分析采用在直流电弧阳极直接激发试样的三标准试样法。对其中几个关键问题进行了讨论，方法用于硅原料检验和制造过程的监督，经过扩充后可分析不同纯度的硅样品，并推广应用于纯锗的分析。

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