《CCD在数控机床闭环控制系统中的应用》PDF+DOC
作者:魏宏波,王玮
单位:中国机械工程学会;广州机械科学研究院
出版:《机床与液压》2016年第08期
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFJCYY2016080510
DOC编号:DOCJCYY2016080519
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高精度测量是实现高精度控制的前提。通过对现有数控机床控制系统的分析,为了提高测量精度、降低系统成本,将传统光栅与CCD结合起来完成数控机床闭环系统的控制,介绍了系统位移测量原理及方法,为数控机床闭环控制提供新思路。
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