作者:李香宇,任建存,王世功,徐向美 单位:西安市三才科技实业有限公司 出版:《电子设计工程》2017年第15期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGWDZ2017150240 DOC编号:DOCGWDZ2017150249 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 温度稳定性是仪器仪表制造的一个关键的技术指标,因此设计采用线性较好的温度传感器LM35,通过对传感器、信号放大及AD采样电路的优化,提高温度采样精度,采用高度集成的STM32F103,内置数字PID控制算法,结合PWM控制模式,不仅大大提高温度控制精度,也提高了控制效率,有效地提高仪器仪表测量分析性能。

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