作者：姜宁,袁渊,胡丁尹 单位：机械工业信息研究院 出版：《电气应用》2017年第08期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFDGJZ2017080130 DOC编号：DOCDGJZ2017080139 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 针对剩余电流动作断路器的电子元件抗老化试验，现有的试验装置存在试验效率低、试验设备购置成本高及体积大等缺点，针对目前已有试验装置存在的问题，对电子元件抗老化试验装置进行了改进，达到了提高试验效率、降低设备购置成本等目的。

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